首届仪器仪表器件选型技术研讨会成功召开
11月13日，伴随着第82届中国电子展的热烈开幕，由中国电子学会电子测量与仪器分会指导，中电会展信息与传播有限公司与《电子产品世界》杂志社共同主 办的“首届仪器仪表器件选型技术研讨会”成功召开。本次研讨会以“助力中国创造的高性能测试仪器”为主题，邀请了国内外半导体器件及电子测试仪器领先企 业，与大家共同探讨如何借助半导体器件实现高性能测试仪器的设计与实现。
会议当天，中国电子器材总公司副总经理陈雯海代表主办方向与会嘉宾做了热情洋溢的致辞，谈及主办会议的意义时他强调，希望借助本届会议，帮助国内的电子测 试仪器企业在展示自己产品的同时，与来自国内外优秀的半导体器件供应商进行深入的交流，深入了解最新的可以用于中高端测试设备的电子器件，从而在半导体企 业的支持下，能够借助恰当的半导体产品实现高性能测试设备的研发，进军高性能电子测试市场。中国电子学会电子测量与仪器分会崔建平秘书长则具体分析了测试 仪器产业面临的现状，特别指出在国外测试仪器厂商纷纷面临各自内部问题之际，中国本土企业应该抓住这样的时机，利用本地化庞大的市场优势，尽快打入中高端 市场，真正站在技术和市场领先的舞台参与到市场竞争中。
模拟器件是测试仪器中不可缺少的部分，决定着测试仪器的最终性能。作为模拟器件的领导企业，ADI公司系统应用工程师李强在介绍ADI精密仪器系统解决方 案时，不仅提供了包括气体检测等完整的硬件参考解决方案设计，更从模拟电路的设计方面，提供了如何借助合理的设计提升测试仪器的精度等具体设计问题。
作为模拟和数字信号转换过程中的关键器件，转换器的性能很大程度上影响最终测试仪器的性能，选择一款适合自己的转换器产品对仪器设计有重要的意义，北京时 代民芯有限公司王宗民主任带来了该公司多款业界领先的高速转换器产品，其中最高转换速率可以达到3G，已经广泛应用于多款国内领先的示波器产品中。
力科公司市场经理胡卫东先生则为大家介绍了“通信集成电路设计中高速数字信号的测试验证及挑战”。通过高速转换器的应用，有效提升测试仪器的性能，帮助大家在设计硬件传输时更可靠更稳定。
信号处理性能是高性能测试仪器一个非常重要的指标，FPGA以其高性能和灵活可配置性，在仪器仪表的信号处理中发挥着越来越重要的作用，国内也已经有企业 借助高性能FPGA将自己的产品性价比大幅提升，安富利高级工程师赵红浪结合最新的FPGA特性和实际案例，为大家详细阐述了Xilinx FPGA在仪 器仪表中的应用。
中国电子学会电子测量与仪器分会崔建平秘书长最后就传感器网络的技术发展和测试需求调整，结合云计算和物联网应用，带大家一起领略传感器网络更新测量仪器概念的未来趋势。
这次会议与中国电子展这一行业盛会同期召开，吸引了近百名嵌入式和硬件设计工程师，包括中国科学院、上海技术物理研究所、工信部电子五所、中国电子科技集 团36研究所、航天科技集团九院772所、美国泰克、德国RS、飞利浦、上海谱生分析仪器有限公司、南京软仪测试技术有限公司、以及华东师范大学和同济大 学等。现场反映良好，德国Ｒ&Ｓ和北京联仪的代表专门表示了对会议内容的认可,希望有机会多学习。
最重要的是，作为中国电子展的同期活动，本会议帮助中国电子展的仪器参展商，在展示自己产品的同时，为其提升自身的核心创造力提供学习交流平台，切实把电子展的专区打造成了“为参展企业服务，促进行业发展”的专业化平台。
